产品信息
PRODUCTS
薄膜检查设备
High Resolution Inspection machine MEI Series
Reticle / Pellicle / Blanks inspection MEI-S30-A2
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这是一种使用光学相机自动检查和清除附着在薄膜上的异物的设备。
用途
检查并清除网罩和薄膜上的异物
特征
- 对整个十字线表面进行异物检查 (Pellicle, Pellicalized Masks, Blanks, Backside)
- 检测到的粒子可以被可视化
- 灵活的配方操作
- 高重复性
- 利用特殊光学系统(明场/暗场)进行高速多重扫描
- 仪器间测量结果具有很高的重复性
- 全自动(EFEM/OHT/多端口传输)
- 可安装氮气吹除异物功能 (自动和手动吹风)
・颗粒/针孔/损伤/褶皱检测
・检查区域可调
・配备彩色显微镜验证审核模块
产品规格规范
- 电源
- AC208V Φ3 60Hz 50KVA
- CDA
- 20L/min
- N2
- 100L/min
- 真空
- 20NL/min -80kPa
- 排气
- 20m3/min