薄膜检查设备

High Resolution Inspection machine MEI Series
Reticle / Pellicle / Blanks inspection MEI-S30-A2

这是一种使用光学相机自动检查和清除附着在薄膜上的异物的设备。

用途

检查并清除网罩和薄膜上的异物

特征

对整个十字线表面进行异物检查
 (Pellicle, Pellicalized Masks, Blanks, Backside)
 ・颗粒/针孔/损伤/褶皱检测
 ・检查区域可调
 ・配备彩色显微镜验证审核模块
检测到的粒子可以被可视化
灵活的配方操作
高重复性
利用特殊光学系统(明场/暗场)进行高速多重扫描
仪器间测量结果具有很高的重复性
全自动(EFEM/OHT/多端口传输)
可安装氮气吹除异物功能
 (自动和手动吹风)

产品规格规范

电源
AC208V Φ3 60Hz 50KVA
CDA
20L/min
N2
100L/min
真空
20NL/min -80kPa
排气
20m3/min

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