产品信息
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晶圆缺陷检查设备
晶圆缺陷检查设备
晶圆缺陷检查设备(MICW300)将OHT或操作员设置在负载端口(FOSB打开器)的BOX中的晶圆取出,并由每个检查单元检查,将OK产品放置在原始位置,将NG产品放置在NG BOX中。
此外,通过从传统的目视检查变更为自动化,可以减少人为错误,缩短工作时间。
用途
传统目视检测的自动化检测
检测化学晶片针孔,裂纹,划痕,碎裂等缺陷
特征
- 采用C back C传送方式节省空间
- 可以选择将NG品放回原来的盒子或转移到NG专用盒子
- 可对应晶片尺寸:支持6英寸至12英寸※1
- ※不能混合1个尺寸。
- 可以保存OK品、NG品的检查结果图像
产品规格规范
- 设备尺寸
- 3750D×2800W×2315H
- 电源
- AC200V Φ3 50Hz 30KVA
- CDA
- 100NL/min
- 排气
- 5m3/min×2处
- 循环时间
- 约20 sec(取决于检查设置)